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贵金属元素分析仪

贵金属元素分析仪

产品时间:2018-01-18

简要描述:

产品说明


X射线荧光光谱法测定黄金首饰的纯度是一种简单、快捷的方法。其原理是X射线管(或放射源)产生入射X射线(一次X射线)激发被测样品,受激发样品中的元素会放射出二次X射线,不同元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性;探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量,采用软件直接转换成各种元素的种类和含量。

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硬件独特性:超高的分辨率可轻松解决贵金属行业无损分析的任何复杂要求,轻松分析金、铂、铱、钨、钯、银、钌等等68种金属元素,实为贵金属行业性价比的*光谱仪。

软件优越性:XRF菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算系统;软件除能显示金属百分比纯度外,亦可显示黄金K值;软件可自动重复检测,自动测算多次检测的均值;独具全局故障诊断系统;计算报告的打印格式多样化,完全满足客户各种形式的打印要求。

激发源:Mo靶的X光管 风冷 (无辐射)

探测器:Si-PIN 探测器 (美国进口)  145Kev ± 5

高压装置:0—50KV

其它规格:

电压:交流220V/50Hz
zui大功率:144W
zui大处尺寸:450mm*650mm*350mm 
重量:32kg

技术指标:

分析范围:0.001% ~ 99.99%
测量时间:自适应 
测量精度:± 10ppm ~ 0.1%

分辨率  :145Kev ± 5
测试环境:常温常态 
分析元素:除贵金属常含元素和铱、锇等铂族重金属能全面测试外,该型号还能对从Na至U的70多种元素进行分析,实为贵金属行业常量分析中的实验室级光谱仪。
X射线源:X射线光管 
高压器:0~50Kv
操作系统:Windows2000/Me/XP

镀层测量:

镀层厚度范围<30μm
zui大测量层数:5层 
测量精度:0.03μm

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